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UV-A紫外輻照計（雙通道）適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。

UV-A紫外輻照計（單通道）采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。

ST-86L弱光照度計特點： * 液晶數(shù)字顯示。 * 硅光電探測器，光譜和角度特性經(jīng)嚴格校正。 * 測量范圍寬，精度高。 * 有數(shù)字保持功能。 * 操作簡單，使用方便。

ST-80C數(shù)字式照度計特點： * 液晶數(shù)字顯示。 * 硅光電探測器，光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正。 * 測量范圍寬，精度高。 * 有數(shù)字保持功能。 * 微型測光探頭。 * 操作簡單，使用方便。

ST-85型自動量程數(shù)字照度計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強，可以用來測量白熾燈、熒光燈、高壓鈉燈、金屬鹵化燈或LED等光源發(fā)出的可見光照度，廣泛應用于工業(yè)、農(nóng)業(yè)、建筑、環(huán)境、衛(wèi)生、科研等各個領域。